近年電子デバイスが私たちの生活に浸透してきています。このようなことが起きるようになったのは、インターネットの普及もありますが、電子デバイスが大変小型になり携帯が容易になったということがまず挙げられます。この電子デバイスの小型を可能にしているのが、その中にある半導体集積回路の集積度の向上です。少し前までは、部屋いっぱいの電子部品が無ければ更生できなかったようなものが、手のひらに収まるようなものになってきました。

半導体集積回路の集積度の向上は、桁が違うほど現在は進化しています。電子デバイスの中を見てみても、基板の上にいくつかの半導体集積回路と少数の部品が存在しているだけです。ほとんどのものは集積回路の中に収められています。このような高度の集積化が行われることで電子デバイスの小型化軽量化が行われ、ポケットにも入るような多種類の電子デバイスが売り出されるようになってきました。

しかしこのような状況になって解決しなければならないことが生じました。それは、高度に集積化された集積回路の検査はどのようにして行うかということです。従来のような部品一つ一つを調べるというわけにはいきません。そのようなことで現在行われているのか、検査専用のオリジナルソケットを集積回路に取り付け検査治具を用いて動作チェックを行うという方法です。

オリジナルソケットを利用したこの方法は、他の工程に大きな影響を与えませんので生産ラインにおける工程を極端に遅らせる事はありません。このようにオリジナルソケットの検査治具を用いることにより、大変迅速で簡単に回路動作がチェックできるようになってきました。